YP-150I日本YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素半導(dǎo)體檢查燈
YAMADA 高亮度鹵素光源檢查燈YP-150I$n日本YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素半導(dǎo)體檢查燈這是一種光源裝置,通過(guò)使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux(30Φ)或更高的照明,可以觀察到細(xì)微的劃痕。
- 01
更新日期
2024-09-22 - 02
瀏覽量
4502
產(chǎn)品分類(lèi)
PRODUCT CATEGORY相關(guān)文章
RELATED ARTICLES產(chǎn)品中心/ PRODUCTS CENTER
更新日期
2024-09-22瀏覽量
4502更新日期
2024-09-29瀏覽量
676更新日期
2024-09-29瀏覽量
656更新日期
2024-09-28瀏覽量
1091更新日期
2024-09-28瀏覽量
522更新日期
2024-09-28瀏覽量
896關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介榮譽(yù)資質(zhì)資料下載產(chǎn)品展示
GF-603AWP最小稱(chēng)重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可讀性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止損壞重量傳感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小穩(wěn)重120mg精密天平 GF-324A雙向 USB 接口日本AND高級(jí)精密分析天平服務(wù)與支持
技術(shù)文章新聞中心聯(lián)系我們
聯(lián)系方式在線留言版權(quán)所有 © 2024 北崎國(guó)際貿(mào)易(北京)有限公司 備案號(hào):京ICP備17005343號(hào)-5
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml